冷熱循環(huán)快速溫變恒溫恒濕試驗箱

冷熱循環(huán)快速溫變恒溫恒濕試驗箱

適應于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品電子零組件，成品、半成品、半導體、化學、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應性試驗及應力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價（快速變化）

冷熱循環(huán)快速溫變恒溫恒濕試驗箱

產(chǎn)品篩選:通過溫度和循環(huán)可使您在發(fā)現(xiàn)之前檢測出產(chǎn)品存在的潛在缺陷，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

設(shè)備滿足以下標準

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB 150.9A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗

溫度范圍：A:0～150、B:-20～150℃、C:-40～150℃、D-60～150℃、E:-70～150℃

范圍：20～98％RH

溫度波動范圍：±0.3℃（-70～+100℃）±0.5℃（+100.1～+150℃）±2.5﹪rh

溫度均勻性：  TEE-150PF、225PF、408PF、600PF

          1、±1.0℃（-70～+100℃）

             ±1.5℃（+100.1～+150℃）

          TEE-800PF、1000PF

          2、±1.5℃（-70～+100℃）

             ±2.0℃（100～+150℃）

升溫時間：非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）

        線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）

降溫時間：非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）

        線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃

快速溫變試驗箱符合以下標準要求：
1、GB/T5170.2-2008 《溫度試驗設(shè)備》；
2、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗方法Ab》；
3、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低溫試驗方法Bb》；
4、IEC 60068-2-14 2009 《環(huán)境試驗.第2-14部分試驗.試驗N溫度的改變》。