冷熱沖擊試驗(yàn)箱電子元器件設(shè)備應(yīng)力篩選型

冷熱沖擊試驗(yàn)箱電子元器件設(shè)備應(yīng)力篩選型適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)。升級(jí)版立式恒溫恒濕試驗(yàn)箱-60~+150℃廠家

產(chǎn)品型號(hào)：TSD252F-2P
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-07-11
訪(fǎng) 問(wèn) 量：424

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聯(lián)系電話(huà)：0769-81085066

產(chǎn)品詳情

品牌	廣皓天	高溫室	+60℃→+150℃
低溫室?	?-60℃→-10℃	升溫時(shí)間?	升溫+60℃→150℃≤25min
降溫時(shí)間	?+20℃→-60℃≤60min	溫度沖擊范圍?	?（60℃→-150℃）→（-40℃--10℃）
溫度波動(dòng)度	?±0.5℃	溫度偏差?	±2.0℃

冷熱沖擊試驗(yàn)箱電子元器件設(shè)備應(yīng)力篩選型

用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足的試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱電子元器件設(shè)備應(yīng)力篩選型

性能特點(diǎn)：

1、氣動(dòng)式閥門(mén)方便開(kāi)啟，氣密及斷熱保護(hù)；
2、試驗(yàn)槽靜止，可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線(xiàn)；
3、蓄能方式可避免使用者職業(yè)傷害；（注：液態(tài)氣體所產(chǎn)生的廢氣，吸入肺部致使肺部氧氣量減少，而產(chǎn)生工作倦怠，注意力不集中等）
4、溫度控制精度高，全部采用PID自動(dòng)演算控制；
5、可選擇始動(dòng)位置，高溫或低溫開(kāi)始循環(huán)；
6、具有預(yù)約起動(dòng)功能；

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技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍：
高溫區(qū)：+60 ℃ ～ 200 ℃
低溫區(qū)：A/-10 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-60 ℃ , C/-10 ℃～-70 ℃
工作室：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃
2、溫度波動(dòng)度: ±0.5℃
3、溫度均勻度：±3℃
4、溫度恢復(fù)時(shí)間:3~5min
5、高溫槽升溫速度:平均約5℃/min
6、低溫槽降溫速度:平均約1.5℃/min
7、高低溫暴露時(shí)間:30min以上
8、高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤15秒